智能计算 忆阻器测试方法 第3部分:脉冲依赖可塑性

Intelligent computing — Test method for memristor devices — Part 3:Spike dependent plasticity

概要

国家标准计划《智能计算忆阻器测试方法第3部分:脉冲依赖可塑性》由SWG32(全国智能计算标准化工作组)归口,主管部门为国家标准委

项目进度

起草

征求意见

审查

批准

发布

基础信息

  • 20253308-T-469
  • 制定
  • 18个月
  • 2025-08-06
  • 方法
  • 31.080.99
  • 全国智能计算标准化工作组
  • 全国智能计算标准化工作组
  • 国家标准委

起草单位

复旦大学、之江实验室、中国科学院微电子研究所、清华大学、北京大学、浪潮电子信息产业股份有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、苏州慧敏迅智控科技有限公司、中国信息通信研究院等