精细陶瓷 电感耦合等离子体发射光谱法测定氧化硅粉体金属杂质元素

Fine ceramics—Methods for chemical analysis of metal impurities in silicon dioxide powders using inductively coupled plasma-optical emission spectrometry

概要

国家标准计划《精细陶瓷电感耦合等离子体发射光谱法测定氧化硅粉体金属杂质元素》由TC194(全国工业陶瓷标准化技术委员会)归口,TC194SC2(全国工业陶瓷标准化技术委员会结构陶瓷分会)执行,主管部门为中国建筑材料联合会

项目进度

起草

征求意见

审查

批准

发布

基础信息

  • 20254494-T-609
  • 制定
  • 12个月
  • 2025-09-05
  • 方法
  • 81.060.30
  • 全国工业陶瓷标准化技术委员会
  • 全国工业陶瓷标准化技术委员会结构陶瓷分会
  • 中国建筑材料联合会

起草单位

浙江金琨西立锆珠有限公司

采标情况

本标准修改采用ISO国际标准:ISO 5189:2023

采标中文名称:《精细陶瓷(先进陶瓷、先进技术陶瓷)用电感耦合等离子体发射光谱法分析二氧化硅粉体中金属杂质的方法》