纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南

Nanotechnologies — A guideline for ellipsometry application to evaluate the thickness of nanoscale films

概要

国家标准计划《纳米技术纳米尺度薄膜厚度测量椭圆偏振法应用指南》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279SC2(全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会)执行,主管部门为中国科学院

项目进度

起草

征求意见

审查

批准

发布

基础信息

  • 20260021-Z-491
  • 制定
  • 12个月
  • 2026-01-09
  • 方法
  • 17.180.30
  • 全国纳米技术标准化技术委员会
  • 全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会
  • 中国科学院

起草单位

泰州飞荣达新材料科技有限公司、东南大学、南京大学海安高技术研究院、泰州巨纳新能源有限公司、南京大学等

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC/TR 63258:2021

采标中文名称:纳米技术 纳米尺度薄膜厚度测量 椭圆偏振法应用指南