纳米制造 关键控制特性 第9-1部分:纳米级空间分辨率可溯源杂散磁场测量 磁力显微镜

Nanomanufacturing—Key control characteristics—Part 9—1: Traceable spatially resolved nano-scale stray magnetic field measurements—Magnetic force microscopy

概要

国家标准计划《纳米制造关键控制特性第9-1部分:纳米级空间分辨率可溯源杂散磁场测量磁力显微镜》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279SC2(全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会)执行,主管部门为中国科学院

项目进度

起草

征求意见

审查

批准

发布

基础信息

  • 20260020-Z-491
  • 制定
  • 12个月
  • 2026-01-09
  • 方法
  • 07.120
  • 全国纳米技术标准化技术委员会
  • 全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术分会
  • 中国科学院

起草单位

中国计量大学、中国计量科学研究院、泰州石墨烯研究检测平台有限公司、杭州象限科技有限公司

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC TS 62607-9-1:2021

采标中文名称:纳米制造 关键控制特性 第9-1部分:纳米级空间分辨率可溯源杂散磁场测量 磁力显微镜